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上海珩泽科技有限公司

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闪射法导热仪 LFA 467 HyperFlash®
    发布时间: 2020-11-10 13:54    

全新的 LFA 467 温度范围宽广(-100°C 到 500°C),测样效率高(带16个样品位的自动进样器),拥有超高的数据采集速率,样品与检测器之间可选配智能透镜系统(ZoomOptics)。

闪射法导热仪 LFA 467 HyperFlash®

LFA 467 HyperFlash – 闪射法导热仪 (-100°C - 500°C)

开创热扩散系数与导热系数测量的新天地 —— 快速、简单、经济

LFA 467 HyperFlash


宽广的温度范围,从 -100°C 到 500°C

无须更换检测器或炉体, LFA467 HyperFlash在同一台仪器上可实现 -100°C 到 500°C 的宽广温度范围。加上目前市场上种类最丰富的可选配件,开创了热物性测量的新天地。

进样器附有 16 个样品位,样品容纳量为原来的 4 倍

LFA 467 HyperFlash 的一大优势是可以在整个温度范围内连续测量 16 个样品,大大缩短了测量时间。液氮补给系统可以实现对检测器与炉体的自动补充液氮,保证仪器全天候不间断测量。


ZoomOptics 得到的测量结果更准确,减少测量误差

专利技术的 ZoomOptics 优化了检测器的检测范围,从而消除了孔径光阑的影响。显著增加了测量结果的精度。

极高的采样频率(2MHz),特别适合于薄膜样品

薄膜样品及高导热材料需要快速的数据采集速率,来精确地记录样品上表面的升温过程。LFA 467 HyperFlash 可以提供 2MHz 的数据采集速率,这是 LFA 系统前所未有的。

LFA 467 HyperFlash® - 技术参数

  • 温度范围:-100°C ... 500°C,单一炉体
  • 非接触式测量,IR 检测器检测样品上表面升温过程
  • 数据采集速率:高达 2MHz(包括半升温信号检测,及 pulse mapping 技术)-- 对于高导热及薄膜样品,采样时间(约为半升温时间 10 倍)可低至 1ms,样品厚度最薄可至 0.01 mm 以下(取决于具体的导热系数)
  • 热扩散系数测量范围:0.01 mm2/s ... 2000 mm2/s
  • 导热系数测量范围:< 0.1 W/(mK) ... 4000 W/(mK)
  • 样品尺寸: 
    - 直径 6 mm ... 25.4 mm(包括方形样品) 
    - 厚度 0.01 mm ... 6 mm(样品的厚度要求取决于不同样品的导热性能)
  • 16 个样品位的自动进样器
  • 20 多种支架类型
  • 丰富的测量模式,适应各种类型的样品。如各向异性材料,多层模式分析,薄膜,纤维,液体,膏状物,粉末,熔融金属,压力下的测试,等等。
  • Zoom Optics 优化检测器的检测范围(专利技术)
  • 专利保护的 pulse mapping 技术(US 7038209, US 20040079886, DE 10242741 – approximation of the pulse),用于脉冲宽度修正,可以提高比热值的测量精度
  • 气氛:惰性、氧化性、静态/动态、负压
  • 遵从如下标准: ASTM E1461, ASTM E2585, DIN EN 821-2, DIN 30905, ISO 22007-4, ISO 18755, ISO 13826; DIN EN 1159-2, 等.