该产品可以通过多样化的应用程序，不费吹灰之力即可获得高敏锐、高清晰、高分辨率的扫描图像。 通过优异的速度和精度，推动您研发进步并助力您的科学新发现——FX40将人工智能运用得淋漓尽致，全自动化的过程能实现用户纳米级显微镜的需求。额外的轴向自动激光校准、早期预警和故障自动安全系统、同步化信息提取和存储，让即便是未经原子力显微镜专业培训的研究科学家们可以轻松快速地获得心仪的扫描结果。

高配安全系数

安全的探针着陆装置——全面保护样品和探针

Park采用防碰撞传感器装置和连锁软件相结合，可以更好地保护针尖和AFM扫描器。通过算法编程，Z移动台只能在针尖与样品表面碰撞的极限内升降，避免因探针与样品相碰而产生损害，极大地提高了生产力和测量精准度。

自我诊断型环境传感器

智能扫描器显示并储存传感器的测量结果。传感器主要测量基本的环境条件，如温度，湿度，水平和振动。由此帮助用户在不同环境条件下扫描图像，为您筛选适宜的环境指标。

安全的探针安装系统

用户可以选择手动或自动探针安装功能，同时内置的智能系统会自动检测并在用户错误安装探针时发出警告，从而有效提高测量精准度。

Park FX40技术参数

XY扫描器
构造

▪ 单模块并联二维挠性扫描器
▪ 比挠性扫描器更好的对称性

XY扫描范围

▪ 100 µm x 100 µm

Z扫描器
构造

▪ 挠性导向强力扫描器
▪ 比挠性扫描器更好的对称性

Z扫描范围

▪ 15 µm

装载样品
装载

▪ 磁性吸盘,可安放高达4个样品载片
▪ FX多功能嵌入式样品台

驱动台
Z位移台行程范围

▪ 22 mm （机动）

视野
视野

▪ 样品同轴视野
▪ 与光学显微镜相同的视图

CCD

▪ 510万像素
▪ 像素大小：3.45 μm x 3.45 μm

原子力显微镜控制器
锁相放大器

▪ 4通道集成 16Hz-5MHz

配件
自动换针

▪ 使用自动换针技术可以在不到一分钟时间内更换

装载探针

▪ 使用探针载体装载