通过消除扫描器串扰进行准确的XY扫描

 独立闭环XY和Z柔性扫描器

 正交XY扫描

 样品表面形貌信息测量精准，无需软件处理

全面专业的原子力显微镜解决方案

 涵盖多种扫描探针显微镜的扫描模式

 更智能的NX电子控制器默认启用高级纳米机械测量模式

 拥有业界前沿的兼容性和可升级性

人性化设计的软件和硬件功能

 方便样品或换针的开放式使用

 预对准的探针夹设计，可轻易直观的进行SLD光校准

 Park SmrtScanTM - 原子力显微镜操作软件可以帮助初次使用用户和专业用户进    行专业的纳米级研究。

无耦合关系的XY和Z扫描器

Park的核心技术在于专有的扫描器架构。基于独立XY扫描器和Z扫描器设计的挠曲结构，能让您轻松获得高精度纳米级分辨率数据。

行业引领的低噪声Z探测器

Park AFM 配备了低噪声Z探测器，噪音水平低于0.02 nm,因而达到了样品形貌成像精准，没有边沿过冲无需校准的高效率。Park NX系列不仅为您提供高精准的数据，更为您大大节省了时间成本。

由低噪声Z探测器测量准确的样品形貌

 利用低噪声Z探测器信号进行形貌成像

 有高宽带，Z探测器低噪声只有0.02 nm

 边缘位置无前沿或后沿过冲现象

 只需在原厂校准一次

样品: 1.2 μm标准台阶高度
(9 μm x 1 μm, 2048 pixels x 128 lines)

Park NX7 参数

Scanner

Z扫描器

柔性引导高推动力扫描器
Z扫描范围: 15 μm (30 μm可选)

XY扫描器

闭环控制式单模块柔性XY扫描器
扫描范围: 50 µm × 50 µm
(可选 10 μm × 10 μm 或 100 μm × 100 μm)

位移台

Z位移台

Z位移台行程范围: 26 mm

XY位移台

XY位移台行程范围: 13 mm X 13 mm

样品架

样品大小 : up to 50 mm
样品厚度: up to 20 mm

软件

SmartScan

AFM系统控制和数据采集软件
智能模式的快速设置和简易成像
手动模式的高级使用和更精密的扫描控制

SmartAnalysis

AFM数据分析软件
独立设计—可以安装和分析AFM以外的数据
能够生成采集数据的3D绘制